蒸發(fā)臺(tái)坩堝是集成電路制造真空蒸發(fā)工藝的核心部件,主要用于承載金、鋁、鈦等金屬蒸發(fā)材料,在高溫環(huán)境下使材料氣化并沉積形成導(dǎo)電薄膜,直接關(guān)聯(lián)芯片電極、互連線等關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的成型質(zhì)量。作為蒸發(fā)設(shè)備的核心耗材與功能件,蒸發(fā)臺(tái)坩堝適配集成電路從前端晶圓制造到后端封裝的多個(gè)環(huán)節(jié),其性能與適配性對(duì)薄膜純度、厚度一致性影響顯著,是支撐集成電路器件電學(xué)性能穩(wěn)定的重要基礎(chǔ)。
蒸發(fā)臺(tái)坩堝的核心價(jià)值在于保障蒸發(fā)材料的純凈度與氣化穩(wěn)定性。集成電路對(duì)金屬薄膜雜質(zhì)含量要求嚴(yán)苛,優(yōu)質(zhì)蒸發(fā)臺(tái)坩堝采用高純氮化硼、石英等材質(zhì)制成,能減少高溫下自身材質(zhì)揮發(fā)與雜質(zhì)析出,避免污染蒸發(fā)材料,確保沉積的金屬薄膜具備優(yōu)良導(dǎo)電性能,減少器件短路、漏電等風(fēng)險(xiǎn)。
蒸發(fā)臺(tái)坩堝的結(jié)構(gòu)與材質(zhì)適配性,直接影響集成電路工藝的兼容性。不同金屬材料的熔點(diǎn)、化學(xué)特性存在差異,對(duì)應(yīng)的坩堝需具備匹配的耐高溫性與化學(xué)穩(wěn)定性,例如承載高熔點(diǎn)金屬時(shí),坩堝需耐受上千攝氏度高溫且不發(fā)生化學(xué)反應(yīng),適配不同制程芯片的薄膜沉積需求。
此外,蒸發(fā)臺(tái)坩堝的使用壽命與穩(wěn)定性,關(guān)系集成電路量產(chǎn)效率。適配規(guī)模化生產(chǎn)的坩堝能減少頻繁更換帶來(lái)的停機(jī)損耗,同時(shí)通過(guò)穩(wěn)定的氣化效果減少工藝波動(dòng),助力提升集成電路制造的良率,在芯片國(guó)產(chǎn)化制造進(jìn)程中發(fā)揮著不可替代的作用。
